類別 |
專利申請案件名稱 |
國別 |
發明人 |
提申案號/證書號/
權利期間 |
專利簡介 |
發明專利 |
光學式晶圓翹 曲量測系統 |
中華民國 |
李朱育,謝宏麟,蔡宇軒 |
I484136
2017-01-2033-01 |
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發明專利 |
晶圓定位方法及其系統 |
中華民國 |
李朱育,陳怡呈,陳建佑 |
I447843
2017-01-2033-01 |
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發明專利 |
具有波長可調 制光源模組之外差光產生裝 置 |
中華民國 |
李朱育,鍾育哲 |
I483052
2015-05 ~ 2033-01 |
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發明專利 |
表面電漿共振量測裝置 |
中華民國 |
李朱育,蔡欣凱 |
I426260
2014-08-01 ~ 2030-10-27 |
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發明專利 |
位移量測裝置及其量測方法 |
中華民國 |
李朱育,林坤億,黃思翰 |
I403687
201-08-01 ~ 2029-10-27 |
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發明專利 |
表面電漿共振檢測裝置及檢測方法 |
中華民國 |
李朱育,施學兢,洪群泰 |
I322887
2012-11~ 2028-11 |
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發明專利 |
表面電漿共振 量測裝置 |
美國 |
李朱育,蔡欣凱 |
US 8,670,122 B2
2010-11-23 ~ 2032-06-26 |
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發明專利 |
位移量測裝置及其量測方法 |
美國 |
李朱育,林坤億,黃思翰 |
US 8,526,007 B2
2010-05 ~ 2030-12 |
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發明專利 |
準共光程外差光柵干涉儀 |
中華民國 |
李朱育,吳維庭 |
I358530
2007-12 ~ 2027-12 |
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發明專利 |
一種使用波長調制外差式光柵干涉儀之位移量測裝置 |
中華民國 |
李朱育,施學兢 ,周隆亨 |
163024
2002-08 ~ 2021-12 |
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